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紫外可見分光光度計--上海恒平

型號：754

產品時間：2023-12-19

簡要描述：

自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉換更快速。
一階過零、一階線性標準曲線測試，最多可建立12個標樣點的標準曲線。標定曲線擬合，濃度直讀，可保存50條曲線參數(shù)。濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。
系統(tǒng)時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數(shù)據接口,燈切換波長設置。
8鍵鍵盤，內置6個常用工作波長，可一鍵調取。（752）

用途

752、754、756PC適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內物質的含量進行定量分析，可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生及各科研等單位實驗室。

功能

自動波長，鍵盤輸入，波長設定和轉換更快速。

一階過零、一階線性標準曲線測試，最多可建立12個標樣點的標準曲線。標定曲線擬合，濃度直讀，可保存50條曲線參數(shù)。濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。

系統(tǒng)時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數(shù)據接口,燈切換波長設置。

8鍵鍵盤，內置6個常用工作波長，可一鍵調取。（752）

附有UV-Solution2.0工作軟件，具有多種測試、掃描等功能。（756PC）

技術參數(shù)

型號	752	754	756PC
帶寬	4nm		2nm
波長范圍	200-1000mm（步進間隔0.1nm）	190-1100nm（步進間隔0.1nm）
波長準確度（≤）	±2.0nm（開機自動校準）	±1.0nm（開機自動校準）
波長重現(xiàn)性（≤）	1nm	0.5nm
測定范圍	0.0-125.0%T -0.097-2.70A 濃度0-1999	-1.0-200.0%T -0.5-3.0000A 濃度0-1999
透射比準確度（≤）	±0.5%T
透射比重復性（≤）	0.2%T
雜散光（≤）	0.5%T（在220.360nm處）	0.3%T（在220.360nm處）	0.15%T（在220.360nm處）
穩(wěn)定性/基線漂移（≤）	±0.0003A/h	±0.0002A/h
基線直線性（≤）	/		±0.004A
顯示器	128x64（mm）大屏幕液晶
外形尺寸	456x375x220（mm）

詢價優(yōu)惠

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紫外可見分光光度計--上海恒平

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